Αποτελέσματα αναζήτησης - Stover, John
- Εμφανίζονται 1 - 9 Αποτελέσματα από 9
-
1
Optical Scattering: Measurement and Analysis, 3rd Ed από Stover, John C.
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
2
Optical Scattering: Measurement and Analysis, 2nd Ed από Stover, John C.
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
3
Scatter from Optical Components
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
4
Optical Scatter: Applications, Measurement, and Theory
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
5
Optical Scattering: Applications, Measurement, and Theory II
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
6
Optical Scattering in the Optics, Semiconductor, and Computer Disk Industries
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
7
Flatness, Roughness, and Discrete Defect Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
8
Flatness, Roughness, and Discrete Defects Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays II
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο -
9
Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
Άλλοι συγγραφείς: “…Stover, John…”
Ταξινομικός Αριθμός: Φορτώνει…Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Βρίσκεται σε: Φορτώνει…
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο