Proceedings of the 1990 ACM SIGMETRICS conference on Measurement and modeling of computer systems

Detalles Bibliográficos
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Association for Computing Machinery (ACM), 4/1/90
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (ACM)

Ejemplares similares