Proceedings of the 1994 ACM SIGMETRICS conference on Measurement and modeling of computer systems

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Gaither
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/94
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (ACM)

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