Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Gaither
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (ACM)

Ítems similars