Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Gaither
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (ACM)

Podobne zapisy