Proceedings of the 1995 ACM SIGMETRICS joint international conference on Measurement and modeling of computer systems

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Gaither
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Association for Computing Machinery (ACM), 5/1/95
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (ACM)

Benzer Materyaller