Proceedings of the 2015 ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems

Dades bibliogràfiques
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: Association for Computing Machinery (ACM), 6/15/15
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (ACM)

Ítems similars