Proceedings of the 2017 ACM SIGMETRICS / International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems

Detalhes bibliográficos
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Association for Computing Machinery (ACM), 6/5/17
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (ACM)

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