Proceedings of the 1st ACM SIGSOFT International Workshop on Testing Embedded and Cyber-Physical Systems

Opis bibliograficzny
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Association for Computing Machinery (ACM), 7/13/17
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (ACM)

Podobne zapisy