Proceedings of the 1st ACM SIGSOFT International Workshop on Languages and Tools for Next-Generation Testing

Detalles Bibliográficos
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: Association for Computing Machinery (ACM), 11/8/20
Subjects:
Acceso en liña:Full text available on Research4Life (ACM)

Títulos similares