Proceedings of the 2000 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Detalles Bibliográficos
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: Association for Computing Machinery (ACM), 6/17/00
Subjects:
Acceso en liña:Full text available on Research4Life (ACM)

Títulos similares