Proceedings of the 2000 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Opis bibliograficzny
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Association for Computing Machinery (ACM), 6/17/00
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (ACM)

Podobne zapisy