Proceedings of the 2000 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Detaylı Bibliyografya
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Association for Computing Machinery (ACM), 6/17/00
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (ACM)

Benzer Materyaller