Proceedings of the 2003 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Dades bibliogràfiques
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: Association for Computing Machinery (ACM), 6/11/03
Matèries:
Accés en línia:Full text available on Research4Life (ACM)

Ítems similars