Proceedings of the 2003 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Detalhes bibliográficos
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Association for Computing Machinery (ACM), 6/11/03
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (ACM)

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