Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Liblit
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Association for Computing Machinery (ACM), 6/19/09
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (ACM)
Kuvaus
Huomautukset:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Ulkoasu:1 online resource
Aineistotyyppi:Mode of access: Internet
ISBN:9781605586540
Pääsy:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students