Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Liblit
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Association for Computing Machinery (ACM), 6/19/09
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (ACM)
Opis
Deskrypcja:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Opis fizyczny:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9781605586540
Ograniczenie dostępu:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students