Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Liblit
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Association for Computing Machinery (ACM), 6/19/09
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Full text available on Research4Life (ACM)

অনুরূপ উপাদানগুলি