Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Liblit
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Association for Computing Machinery (ACM), 6/19/09
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (ACM)

Gelijkaardige items