Proceedings of the 2nd International Workshop on Defects in Large Software Systems: Held in conjunction with the ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis (ISSTA 2009)
| מחברים אחרים: | |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Association for Computing Machinery (ACM),
6/19/09
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Full text available on Research4Life (ACM) |