Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Technology: Submicrometer Lithographies IX

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Resnick, Douglas
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 5/1/90
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
תיאור
תאור פריט:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
תיאור פיזי:1 online resource
פורמט:Mode of access: Internet
ISBN:9780819403100
גישה:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students