Postek, M. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Postek, Michael. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Postek, Michael. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.