Postek, M. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI. SPIE Digital Library.
Citação norma ChicagoPostek, Michael. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI. SPIE Digital Library.
Citação norma MLAPostek, Michael. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI. SPIE Digital Library.
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