Interferometry: Surface Characterization and Testing

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Creath, Kathy
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 12/15/92
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak