Electron-Beam, X-Ray, and Ion-Beam Submicrometer Lithographies for Manufacturing III

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Patterson, David
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 6/24/93
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy