Hoy Bennett, M. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VIII. SPIE Digital Library.
Citace podle Chicago (17th ed.)Hoy Bennett, Marylyn. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VIII. SPIE Digital Library.
Citace podle MLA (9th ed.)Hoy Bennett, Marylyn. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VIII. SPIE Digital Library.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..