Mathur, J. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Mathur, Jagdish. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Mathur, Jagdish. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.