Hoy Bennett, M. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control IX. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Hoy Bennett, Marylyn. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control IX. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Hoy Bennett, Marylyn. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control IX. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.