Hoy Bennett, M. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control IX. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Hoy Bennett, Marylyn. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control IX. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Hoy Bennett, Marylyn. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control IX. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..