Cytowanie według stylu APA (wyd. 7)

Rao, G. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis. SPIE Digital Library.

Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)

Rao, Gopal. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis. SPIE Digital Library.

Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)

Rao, Gopal. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis. SPIE Digital Library.

Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..