Lowell, J. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lowell, John. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Lowell, John. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.