Lowell, J. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II. SPIE Digital Library.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Lowell, John. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II. SPIE Digital Library.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Lowell, John. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II. SPIE Digital Library.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.