8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Qian, Shinan
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 1/1/16
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak