8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Qian, Shinan
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 1/1/16
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia