8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Qian, Shinan
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: SPIE Digital Library, 1/1/16
Sujets:
Accès en ligne:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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