8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics

書誌詳細
その他の著者: Qian, Shinan
フォーマット: 電子媒体 eBook
言語:英語
出版事項: SPIE Digital Library, 1/1/16
主題:
オンライン・アクセス:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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