8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Qian, Shinan
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 1/1/16
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy