8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Qian, Shinan
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 1/1/16
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Registos relacionados