8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics
| Այլ հեղինակներ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային էլ․ գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
SPIE Digital Library,
1/1/16
|
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |