8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics
| Другие авторы: | |
|---|---|
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
SPIE Digital Library,
1/1/16
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |