8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics
| Інші автори: | |
|---|---|
| Формат: | Електронний ресурс eКнига |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
SPIE Digital Library,
1/1/16
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |