Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing

Бібліографічні деталі
Автор: Su, Bo
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: SPIE Digital Library, 1/1/15
Предмети:
Онлайн доступ:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Опис
Опис примірника:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Фізичний опис:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9781628416626
9781628418118
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students