Přeskočit na obsah
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Pokročilé
  • Introduction to Metrology Appl...
  • Vytvořit citaci
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Obálka

Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Su, Bo
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 1/1/15
Témata:
Conference papers and proceedings.
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Internet

Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobné jednotky

  • 3D IC Devices, Technologies, and Manufacturing
    Autor: Xiao, Hong
  • Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing
  • Microlithographic Techniques in IC Fabrication
  • Introduction to clothing manufacture.
    Autor: Cooklin, Gerry
    Vydáno: (2006)
  • Metrology-based Control for Micro-Manufacturing

Možnosti vyhledávání

  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Procházení katalogu
  • Abecední procházení
  • Grafické procházení katalogu
  • Rezervace kurzů
  • Nové tituly v katalogu

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
  • Zeptejte se knihovníka
  • Často kladené otázky