Han, S. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX. SPIE Digital Library.
Citace podle Chicago (17th ed.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX. SPIE Digital Library.
Citace podle MLA (9th ed.)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX. SPIE Digital Library.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..