Han, S. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Han, Sen. Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.