Anar al contingut
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Avançada
  • Second International Conferenc...
  • Citar
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Imatge de la portada

Second International Conference on Testing Technology and Automation Engineering (TTAE 2022)

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Yue, Yang
Format: Electrònic eBook
Idioma:anglès
Publicat: SPIE Digital Library, 1/1/65
Matèries:
Conference papers and proceedings.
Accés en línia:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Internet

Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ítems similars

  • Proceedings of the Second International Workshop on Automation of Software Test
  • Proceedings of the 2022 Conference & Exhibition on Design, Automation & Test in Europe
  • Second International Conference on Optics and Communication Technology (ICOCT 2022)
  • Second International Conference on Sensors and Information Technology (ICSI 2022)
  • International Workshop on Automation, Control, and Communication Engineering (IWACCE 2022)

Opcions de cerca

  • Historial de cerca
  • Cerca avançada

Trobar-ne més

  • Explorar el catàleg
  • Explorar alfabèticament
  • Explora canals
  • Bibliografia recomanada
  • Nous ítems

Necessites ajuda?

  • Consells de cerca
  • Pregunteu al bibliotecari
  • FAQs