Beyerer, J. Automated Visual Inspection and Machine Vision V. SPIE Digital Library.
Chicago-viite (17. p.)Beyerer, Jürgen. Automated Visual Inspection and Machine Vision V. SPIE Digital Library.
MLA-viite (9. p.)Beyerer, Jürgen. Automated Visual Inspection and Machine Vision V. SPIE Digital Library.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.