Automated Visual Inspection and Machine Vision V

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Beyerer, Jürgen, Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 1/1/69
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Opis
Deskrypcja:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Opis fizyczny:1 online resource
Format:Mode of access: Internet
ISBN:9781510664555
9781510664562
Ograniczenie dostępu:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students