Automated Visual Inspection and Machine Vision V

Библиографические подробности
Другие авторы: Beyerer, Jürgen, Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 1/1/69
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Описание
Примечание:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Объем:1 online resource
Формат:Mode of access: Internet
ISBN:9781510664555
9781510664562
Доступ:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students