Automated Visual Inspection and Machine Vision V

Bibliografski detalji
Daljnji autori: Beyerer, Jürgen, Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB
Format: Elektronički e-knjiga
Jezik:engleski
Izdano: SPIE Digital Library, 1/1/69
Teme:
Online pristup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Slični predmeti